射線(xian)檢(jian)測(ce)技(ji)術(shu)是一種(zhong)常規的(de)無損(sun)檢(jian)測(ce)方法,在工(gong)業上有(you)著非常廣泛(fan)的(de)應用(yong)。作為產品質(zhi)量檢(jian)測(ce)的(de)重要手段,經(jing)過百年的(de)歷史,已由(you)簡(jian)單(dan)的(de)膠片和熒屏射線(xian)照相發(fa)展到了數字成像檢(jian)測(ce)。就(jiu)目前筆者(zhe)單(dan)位采用(yong)的(de)DR系統(tong)檢(jian)測(ce)技(ji)術(shu)和射線(xian)膠片檢(jian)測(ce)技(ji)術(shu),來比較兩(liang)種(zhong)檢(jian)測(ce)技(ji)術(shu)的(de)優缺點、實(shi)用(yong)性和發(fa)展狀況。

下(xia)面以(yi)數字(zi)射線中DR為例，簡單的(de)敘述一下(xia)采用DR檢測(ce)過程中的(de)步驟：

1. 根據檢測技術(shu)要(yao)求，設計(ji)檢測圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)質(zhi)量指標。其中包括對比度設計(ji)（即必須(xu)達到(dao)的像(xiang)質(zhi)計(ji)靈敏度）；確定需要(yao)達到(dao)的不清晰度，即選(xuan)用合(he)適的DDA探測器，因為探測器的像(xiang)素尺寸影響圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)的空間分(fen)辨力（有的喜(xi)歡(huan)用分(fen)辨率(lv)，其實(shi)是一個性能指標），或(huo)者是圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)不清晰度。

其中這第1步是三級人員(yuan)的要(yao)求，一(yi)般人跳過(guo)就好(hao)。

2. 按三級人員確定的技(ji)術指標，選擇(ze)成像板，射線(xian)機，圖像處理(li)軟件和顯示器(qi)（這也是(shi)DR檢測(ce)的一個很(hen)大的優勢，可以自己組(zu)建檢測(ce)系統，好比自己買配件來(lai)組(zu)裝電腦一樣，只需要兼容即可）組(zu)建檢測(ce)系統。

3. 對射(she)線(xian)機進行訓(xun)機（這個跟常規射(she)線(xian)檢測(ce)一樣），然(ran)后對成像板進行暗場校準（因為DDA探測(ce)器中的(de)(de)每個電(dian)子元器件由(you)于結構等不(bu)完全一致(zhi)，存(cun)在(zai)本(ben)底(di)噪聲不(bu)同，暗場校準是為了讓所有(you)元器件達到(dao)一個比較均勻的(de)(de)水平）。

暗(an)場(chang)校(xiao)(xiao)準(zhun)后對(dui)成像板進行亮場(chang)（也叫增益(yi)）校(xiao)(xiao)準(zhun)（好比(bi)相控陣超(chao)聲(sheng)波檢(jian)(jian)測(ce)(ce)中，對(dui)探頭晶片增益(yi)進行校(xiao)(xiao)準(zhun)一(yi)樣。同(tong)時這個亮場(chang)校(xiao)(xiao)準(zhun)也決定了圖像信噪比(bi)，當(dang)校(xiao)(xiao)準(zhun)電(dian)(dian)壓大大低于射線檢(jian)(jian)測(ce)(ce)時采用的(de)(de)電(dian)(dian)壓時，可(ke)能會出(chu)現信噪比(bi)飽和的(de)(de)情(qing)況，也就(jiu)是檢(jian)(jian)測(ce)(ce)的(de)(de)信噪比(bi)不夠。此時需要重新(xin)亮場(chang)校(xiao)(xiao)準(zhun)）。

最后對(dui)成(cheng)像(xiang)板壞像(xiang)素進行校準（因為成(cheng)像(xiang)板是電子器件(jian)，可(ke)能隨著使用時間的延(yan)長(chang)出現(xian)壞死，這樣對(dui)成(cheng)像(xiang)結果不利。這個(ge)跟相(xiang)控(kong)陣超(chao)聲(sheng)波檢(jian)測(ce)中對(dui)探(tan)頭陣元壞死情(qing)況(kuang)進行查看一(yi)樣，當(dang)壞死的器件(jian)達到一(yi)定(ding)程度時，就影響檢(jian)測(ce)，這個(ge)時候(hou)可(ke)能需要(yao)更換成(cheng)像(xiang)板）

4. 按三級人員確(que)定的(de)透照技術進行射線(xian)檢(jian)測，透照布置圖(tu)如上圖(tu)2所示。這里跟膠片法(fa)檢(jian)測一(yi)(yi)樣(yang)，唯(wei)一(yi)(yi)有區別的(de)是探測器(qi)和工件可(ke)能不是緊(jin)貼的(de)（膠片法(fa)中盡(jin)量(liang)緊(jin)貼）。

通常，DR射線檢測也是需要(yao)曝(pu)(pu)(pu)光曲線的(de)(de)(de)，與膠(jiao)片法射線檢測不同的(de)(de)(de)是，DR的(de)(de)(de)曝(pu)(pu)(pu)光曲線是曝(pu)(pu)(pu)光量和厚度(du)，還有(you)管(guan)電(dian)壓在一定的(de)(de)(de)信噪比（而膠(jiao)片法里是黑(hei)度(du)）下的(de)(de)(de)關系曲線。按照給定的(de)(de)(de)曝(pu)(pu)(pu)光曲線，調節管(guan)電(dian)壓，管(guan)電(dian)流，積分(fen)時(shi)間(jian)和疊加幀數來(lai)進行曝(pu)(pu)(pu)光。

5. 采集(ji)圖像(xiang)(xiang)，對(dui)(dui)圖像(xiang)(xiang)進行分析處理（這(zhe)個時候，你發現了采集(ji)圖像(xiang)(xiang)后(hou)就(jiu)直接進行評片了，這(zhe)個跟膠片法不一樣，膠片法中還需要對(dui)(dui)底片進行暗室(shi)處理，這(zhe)里直接評片，省下了很多時間(jian)）。