相控陣(zhen)檢測(ce)是(shi)指通過控(kong)制陣(zhen)列檢測中輻(fu)射單元的(de)饋(kui)電相位來(lai)改變方向圖形狀的(de)檢測(ce)。控制(zhi)相(xiang)位(wei)可(ke)以改(gai)變檢測方向圖最大值(zhi)的方向，從而(er)實現波束掃描。

在特殊情(qing)況下(xia)，還可以控制副(fu)瓣(ban)電平、最小位置和(he)整個圖案(an)(an)的(de)形狀，例如獲得余(yu)弦平方圖案(an)(an)和(he)對圖案(an)(an)的(de)自(zi)適應控制。采用機械方法旋轉(zhuan)檢測時，慣性大，速(su)度慢。相控陣檢測克服了(le)這(zhe)一(yi)(yi)缺點，波束(shu)的(de)掃描速度高(gao)。它的(de)饋電相(xiang)位一(yi)(yi)般由電子計算機控制，且相(xiang)位變化速度快(以毫秒計)，即檢測方(fang)向圖或其他參數(shu)的(de)最(zui)大方(fang)向變化迅速。這是相(xiang)控陣檢測最大的特點(dian)。

一般來(lai)說，相控(kong)陣檢測(ce)應該控(kong)制(zhi)每(mei)個輻射單(dan)元的相位。為了節(jie)省移相器和簡化控(kong)制(zhi)電路，有(you)時幾(ji)個輻射單(dan)元共用一個移相器。共享移相器的單(dan)元組合(he)稱為子陣列。

為了降(jiang)低成本和簡化結構，可(ke)以將檢(jian)測設計為在一維范圍(wei)內(如在水(shui)平面上)機(ji)械旋轉，而采用相位控制來控制波束在另(ling)一維范圍內(如(ru)在垂直(zhi)平(ping)面上(shang))的掃描(miao)。這(zhe)種混合掃描(miao)檢測得到了(le)廣泛的(de)應用。

相控陣檢測的關(guan)鍵部件是移相(xiang)器和檢(jian)測輻射單元。移相器有兩種類(lei)型:連續移相(xiang)器和數(shu)字移相(xiang)器。連續移相(xiang)器的相(xiang)移值可以在0°到360°的(de)(de)范圍內連續變化，而數字移(yi)相器(qi)的(de)(de)相移(yi)值是(shi)離散的(de)(de)，只(zhi)能是(shi)360°× (1/2) ^ n的整數倍，其中n為數字移(yi)相器(qi)的位(wei)數。例如(ru)，3位數(shu)字移相器的相移值(zhi)只能為(wei)45°、90°、135°、180°、225°、270°、315°和360°。移(yi)相器既要保證在一定(ding)的(de)頻率(lv)范圍內獲(huo)得(de)所(suo)需的(de)相移(yi)值，又要滿足一定(ding)的(de)功率(lv)電(dian)阻、溫度(du)穩(wen)定(ding)性等要求，以保證相控(kong)陣檢測(ce)在(zai)不同頻率和不斷變化的環境(jing)條件下(xia)都(dou)能正常(chang)工作。

檢測輻射單元的設計(ji)應使(shi)輸入(ru)阻抗在一(yi)定相(xiang)移(yi)范圍(或波束掃描(miao)范圍)和一定頻率范圍內的變化(hua)最小化(hua)，以保證發射(she)(she)機的正常(chang)工作，防(fang)止(zhi)射(she)(she)頻信號多次反射(she)(she)在(zai)方向圖(tu)中產生寄生副瓣和凹(ao)點(盲點)。為此，可(ke)以采(cai)用相互(hu)耦合較(jiao)小的單元或專門的解(jie)耦措施。