在(zai)我(wo)們的日常工作中，我(wo)們發(fa)現一些(xie)(xie)用(yong)(yong)戶在(zai)使用(yong)(yong)探傷設備和設備時存在(zai)一些(xie)(xie)誤解(jie)。這些(xie)(xie)誤解(jie)導致檢測的靈敏度(du)和可靠性降低，或檢測材料的過度(du)消耗，導致檢測成本(ben)的不(bu)合理(li)增加。同(tong)時，它(ta)們也可能給一些(xie)(xie)原本(ben)高性能的設備和設備帶來不(bu)準(zhun)確的評估。我(wo)們相信這些(xie)(xie)使用(yong)(yong)上的誤解(jie)在(zai)很多用(yong)(yong)戶中仍然存在(zai)。我(wo)們想用(yong)(yong)這篇文章來引(yin)用(yong)(yong)要點(dian)，引(yin)起檢驗行業同(tong)仁的注意(yi)。

降低熒光磁(ci)粉(fen)作為輔助可見(jian)光源的信噪比(bi)要求

在(zai)某大型冶金企業的鋼(gang)管(guan)生產線上，鋼(gang)管(guan)必(bi)須進行(xing)在(zai)線熒光磁粉檢測。在(zai)使用(yong)LY-20A復合熒(ying)光(guang)磁(ci)粉(fen)之初，工(gong)作(zuo)人(ren)員報告，用該磁(ci)粉(fen)制(zhi)備的熒(ying)光(guang)水磁(ci)懸浮，雖然比某品牌原(yuan)廠(chang)熒(ying)光(guang)磁(ci)粉(fen)呈(cheng)現出更亮、更清晰的裂紋等線狀缺(que)陷，但在(zai)白光(guang)下(xia)肉眼可見(jian)的凹(ao)坑、斑點(dian)等表面(mian)缺(que)陷，在(zai)檢(jian)測(ce)時不易發現。與原(yuan)來的熒(ying)光(guang)磁(ci)粉(fen)不同，它(ta)還可以在(zai)凹(ao)坑和斑點(dian)孔中顯示(shi)。由(you)于工(gong)廠(chang)要求(qiu)受傷者在(zai)檢(jian)驗過程中檢(jian)測(ce)表面(mian)缺(que)陷，如凹(ao)痕、點(dian)孔等，將被視為漏檢(jian)，造成(cheng)經濟處(chu)罰。因此，工(gong)作(zuo)人(ren)員對(dui)LY-20A熒(ying)光磁粉(fen)的使用持(chi)懷疑態度(du)。顯然，這里有一(yi)個誤解。

首先，利用磁(ci)(ci)(ci)粉檢測檢測凹坑(keng)、點(dian)孔(kong)等(deng)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)的(de)(de)要求本身就不合理(li)。磁(ci)(ci)(ci)粉檢測的(de)(de)原理(li)是，如果鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)材料(liao)按適當的(de)(de)方向磁(ci)(ci)(ci)化，其表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)或表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)附近存(cun)在缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)，則(ze)該區域(yu)的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)場(chang)分布會發生畸變，在缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)對應的(de)(de)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)產(chan)生漏磁(ci)(ci)(ci)場(chang)和(he)磁(ci)(ci)(ci)極，吸(xi)引磁(ci)(ci)(ci)粉形(xing)成顯(xian)示(shi)(shi)器(qi)。缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)的(de)(de)顯(xian)示(shi)(shi)和(he)清(qing)晰(xi)度取(qu)決于漏磁(ci)(ci)(ci)場(chang)的(de)(de)大(da)小。眾所(suo)周知，漏磁(ci)(ci)(ci)場(chang)的(de)(de)大(da)小與磁(ci)(ci)(ci)化場(chang)的(de)(de)方向和(he)大(da)小、缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)的(de)(de)位置(zhi)、形(xing)狀、尺寸(cun)及(ji)(ji)其與表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)傾角以及(ji)(ji)鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)材料(liao)的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)性能等(deng)多種(zhong)因素有(you)關。凹坑(keng)、點(dian)孔(kong)等(deng)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)，由于其形(xing)狀不利于磁(ci)(ci)(ci)場(chang)泄(xie)漏，可產(chan)生非常小的(de)(de)泄(xie)漏磁(ci)(ci)(ci)場(chang)，一般難以吸(xi)引磁(ci)(ci)(ci)性顆(ke)粒形(xing)成顯(xian)示(shi)(shi)器(qi)。磁(ci)(ci)(ci)粉探傷工作者(zhe)在這方面(mian)(mian)有(you)著豐(feng)富(fu)的(de)(de)實踐經驗，漏磁(ci)(ci)(ci)場(chang)偶極子模型(不同寬/深(shen)比)的計算和實(shi)驗驗證也證明了這一(yi)點。