x射(she)線檢測使用x射線(也(ye)包括γ射(she)線)射(she)(she)線(xian)或(huo)其他高能(neng)射(she)(she)線(xian)可以穿(chuan)透(tou)金屬材料的方法，由于材料對射(she)(she)線(xian)的不同(tong)吸(xi)收(shou)和(he)散(san)射(she)(she)作(zuo)用，薄(bo)膜(mo)的靈敏度(du)也(ye)有所不同(tong)。因此(ci)，提出了一種通(tong)過在負片(pian)上形成不同(tong)黑度(du)的圖像來確定材料內部缺陷(xian)的檢測(ce)方法。射(she)(she)線(xian)照相是一種根據被檢工(gong)件(jian)和(he)內部缺陷(xian)介質的射(she)(she)線(xian)能(neng)量(liang)衰減，通(tong)過改變穿(chuan)過工(gong)件(jian)的射(she)(she)線(xian)強度(du)來顯示工(gong)件(jian)上缺陷(xian)的方法。射(she)(she)線(xian)照相膠(jiao)片(pian)。

當(dang)x射線(xian)檢(jian)測(ce)發生(sheng)器發射的x射線(xian)穿過(guo)工(gong)件(jian)(jian)(jian)時(shi)，缺(que)陷(xian)內部(bu)介質的吸收能力與周圍完整(zheng)部(bu)分不(bu)同，因此通過(guo)缺(que)陷(xian)透射的射線(xian)強度與周圍完整(zheng)部(bu)分不(bu)同。將薄膜(mo)放置(zhi)(zhi)在工(gong)件(jian)(jian)(jian)上的正確位置(zhi)(zhi)。在感光(guang)膠(jiao)片上，有(you)缺(que)陷(xian)和無缺(que)陷(xian)的部(bu)分將暴(bao)露在不(bu)同的光(guang)照條件(jian)(jian)(jian)下(xia)。在暗室進一步處理后(hou)，獲(huo)得負片。

然(ran)后將負片放(fang)在(zai)(zai)膠片觀看者上(shang)，清(qing)楚地觀察(cha)到缺(que)陷(xian)和非(fei)缺(que)陷(xian)有不同(tong)的黑(hei)度水平。法(fa)官可以據(ju)此判斷缺(que)陷(xian)情況。熒(ying)光(guang)屏觀察(cha)法(fa)是用(yong)不同(tong)強度的輻射(she)照射(she)物體，并在(zai)(zai)覆蓋熒(ying)光(guang)粉的熒(ying)光(guang)屏上(shang)激發(fa)不同(tong)強度的熒(ying)光(guang)，從而獲得物體內部圖像的方法(fa)。本方法(fa)使(shi)用(yong)的設備(bei)主要(yao)由(you)x射線發生器(qi)及其控制設備、熒光屏觀察記錄輔助設備、工(gong)件(jian)保護和轉移(yi)設備組(zu)成(cheng)。在檢測過程(cheng)中，工(gong)件(jian)被送入觀察箱。

探傷儀的(de)x射線檢測管發出的(de)光(guang)穿過被檢(jian)工件，落在工件旁邊的(de)熒光(guang)屏上。被反射的(de)缺(que)陷圖像被一個(ge)平面鏡(jing)反射并通過與(yu)該平面鏡(jing)平行的(de)導線。玻璃觀察。熒光(guang)屏觀察法只(zhi)能(neng)檢(jian)測薄而簡單的(de)工件，靈敏(min)度(du)較差。靈敏(min)度(du)高，范圍(wei)從2%到3%。在大(da)量檢測中，靈敏度僅為4% ~ 7%。小裂縫是(shi)不可能檢測出來的。